鍍層檢測(cè)儀ux210

儀器簡(jiǎn)介：
ux210型x熒光光譜儀，主要用于rohs指令限定的6種有害物質(zhì)，鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價(jià)鉻Cr、溴Br的準(zhǔn)確檢測(cè),是各電子電器生產(chǎn)商應(yīng)對(duì)rohs指令*檢測(cè)工具；此外ux210型x熒光光譜儀還可以測(cè)試K-U之間的其它元素以及鍍層厚度的檢測(cè)。

技術(shù)參數(shù)：
儀器尺寸：640（w）×474（d）×412（h）mm
樣品腔尺寸：小樣品腔-300（w）×300（d）×100（h）mm
                  大樣品腔-無(wú)限制，小于30公斤
重量：48kg
工作環(huán)境：15-30攝氏度；相對(duì)濕度≤85%
可分析的元素范圍：元素周期表從19號(hào)鉀K至92號(hào)鈾U
zui低檢測(cè)下限：≤2ppm
測(cè)試時(shí)間：200-300s
探測(cè)器*分辨率：149±5ev
電源：AC220V±10%,50Hz 800W

標(biāo)準(zhǔn)配置：
探測(cè)器：Amptek 100CR
MCA多道脈沖處理器：自主研發(fā)制造
高壓電源：Spellman MNX50P50
x光管：丹東X光管Mo靶
分析軟件：ux210主用版V6.0

選配件：
多元素分析軟件
鍍層厚度分析軟件
六價(jià)鉻測(cè)試儀
光路優(yōu)化系統(tǒng)（可測(cè)試鹵素氯、zui低檢出限≤300PPM）

特點(diǎn)：
成熟的經(jīng)典分析方法
憑借國(guó)家“七·五”“九·五”科技攻關(guān)計(jì)劃之科技成果，集成近二十五年分析測(cè)試應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的經(jīng)典數(shù)學(xué)分析模型，為測(cè)試者提供可靠、精準(zhǔn)、穩(wěn)定的分析結(jié)果。